組件EL（Electroluminescence）檢測中文名為電致發(fā)光缺陷檢測，是根據(jù)硅材料的電致發(fā)光原理對組件進行缺陷檢測。給晶體硅電池組件通入1-1.5倍Isc的正向電流，硅片會發(fā)出1000-1100nm的紅外光，同時攝像頭可以捕捉到這

12-29 / 光伏